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何のためのテスト?
ケネス・J.ガーゲン/著 -- ナカニシヤ出版 -- 2023.3 -- 371.7
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所蔵
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所蔵場所
請求記号
資料番号
資料区分
帯出区分
状態
一般資料
37170/G2/
1110796503
一般
貸出可
在庫
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資料詳細
種別
図書
タイトルコード
1130444271
タイトル
何のためのテスト?
タイトルカナ
ナンノ タメ ノ テスト
副書名
評価で変わる学校と学び
著者
ケネス・J.ガーゲン
/著,
シェルト・R.ギル
/著,
東村 知子
/訳,
鮫島 輝美
/訳
著者カナ
ガーゲン ケネス J.
出版地
京都
出版者
ナカニシヤ出版
出版年
2023.3
ページ数
8,223p
大きさ
21cm
原タイトル
原タイトル:Beyond the tyranny of testing
一般件名
教育評価
NDC分類(8版)
371.7
NDC分類(10版)
371.7
ISBN13桁
978-4-7795-1704-4
定価
¥2500
内容紹介
そのテスト、本当に必要ですか? 社会構成主義の第一人者と教育学者が、これまで教育の変革の大きな障壁となってきた評価のあり方を徹底的に検証し、その代替案を示す。
著者紹介
社会構成主義の第一人者。,教育学者。
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